Instytut Elektrotechniki Oddział Technologii i Materiałoznawstwa
Elektrotechnicznego we Wrocławiu

ul. M. Skłodowskiej-Curie 55/61
50-369 Wrocław

tel. 71 328 30 61
fax 71 328 25 51

ielow@iel.wroc.pl

Strona główna » Oferta Badawcza

Oferta Badawcza

Zestawienie oferty badawczej, wykorzystywanej  aparatury oraz personelu odpowiedzialnego za badania.


STANOWISKO BADAWCZE

METODA

WYNIK

PARAMETRY

KONTAKT

Stanowisko do odporności na nagłe zmiany temperatury izolatorów ceramicznych

Stanowisko umożliwia przeprowadzenie prób odporności na nagłe zmiany temperatury izolatorów ceramicznych. Próbki poddaje się cyklom nagrzewania a następnie nagłego chłodzenia. Temperatury oraz czasy cykli dobierane są zgodnie z obowiązującymi normami i zależne są od masy izolatora.

Badania zgodnie z normą:

PN EN 60383-1,

PN EN 62155,

PN EN 60168

Wynikiem próby jest ocena wizualna – brak widocznych uszkodzeń i pęknięć badanego obiektu a następnie przeprowadzenie odpowiedniej próby mechanicznej. Izolator powinien wytrzymać stawiane mu wg obowiązującej normy obciążenia mechaniczne.

- Komora ze specjalną grzałką umożliwiająca podgrzanie medium wraz z badanymi izolatorami 
do 99 oC.  Średnica komory 300 mm, wysokość 1900 mm.

- Komora z wodą o temperaturze dobranej wg obowiązującej normy umożliwiająca zanurzenie badanych obiektów w określonym czasie. Szerokość komory 600 mm, długość 1000 mm, wysokość 300 mm.

K. Kogut

K. Kasprzyk

Skaningowy mikroskop elektronowy VEGA/SBH z Systemem mikroanalizy rentgenowskiej EDS INCA PentaFET x 3 produkcji Oxford Instruments

Elektronowy mikroskop skaningowy (SEM - Scanning Electron Microscope) - przyrząd, rodzaj mikroskopu elektronowego, w którym obraz uzyskiwany jest w wyniku "bombardowania" próbki wiązką elektronów, która skupiona jest na przedmiocie w postaci małej plamki. Wiązka omiata obserwowany obszar linia po linii. Układ rejestruje elektrony odbite, przechodzące przez próbkę (pokrytą cienką metaliczną warstwą) lub elektrony wtórne emitowane przez próbkę w wyniku pobudzenia próbki przez elektrony wiązki.

Zdolność rozdzielcza mikroskopu elektronowego jest znacznie większa od mikroskopu optycznego, a zależy ona głównie od wielkości plamki wiązki elektronowej na próbce.

 

Próbki dostarczone do badań próbki powinny być w postaci całych elementów litych, przełomów, zgładów lub proszków. 
Przed badaniem próbki nieprzewodzące poddaje się procesowi metalizacji.

Skaningowy mikroskop elektronowy SEM przeznaczony jest do obserwacji próbek przewodzących. 
Możliwość badania próbek o wymiarach - 30x30mm, maksymalna preferowana wielkość próbek - 10x10 mm. Wysokość do 10 mm.

 

SEM umożliwia uzyskanie obrazów o powiększeniu: 6 – 1 000 000 razy

 

Przystawka EDS umożliwia wykonanie analizy chemicznej, która  obejmuje analizę punktową i powierzchniową oraz mapping – rozkład pierwiastków.

Skaningowy mikroskop elektronowy SEM z przystawką  EDS zawiera: detektor elektronów odbitych (SE) - detektor typu ET z kryształem YAG, detektor elektronów wtórnie rozproszonych (BSE) - detektor litowo-krzemowy (Li-Si)

Napięcie pracy 5 - 30kV.

Źródło elektronów: Katoda wolframowa

Komora mikroskopu: Średnica wewnętrzna – 160mm

Szerokość drzwi komory – 120mm

Układ próżniowy mikroskopu:

Próżnia robocza w trybie wysokiej próżni < 1x10-2 Pa

Wielkość obrazu:

Maksymalnie do 8 192 x 8 192 pikseli(zapis)

 

 

J. Warycha

Dyfraktometr proszkowy Dron 1 i 2.

Dyfraktometr proszkowy Dron 1 i 2 służy do wykonywania analiz składu związków chemicznych w zakresie kątowym 2 teta, w zakresie 3-163 stopni, z dokładnością 0,005 stopnia. Pomiar intensywności do 100 000/s. identyfikacji widm dyfrakcyjnych wykonywana jest przy użyciu bazy Powder Diffraction Files.

Dodatkowo możliwe są pomiary wielkości krystalitów.

Wyniki obejmują analizę składu związków chemicznych przedstawianą w formie cyfrowej i graficznej.

 

Warunki pracy: 40kV/15mA, promieniowanie Co filtr Fe.

Pomiary widm wykonywane są w zakresie kątowym 2 teta, co 3-163 stopnie, o dokładności 0,005 stopnia. Pomiar intensywności do 100 000/s.

Przystawki temperaturowe od –180oC do 1100-1500oC.

 

K.Kasprzyk

ASAP 2020 Micromeritics Instrument Corporation

System do oznaczania jedno i wielopunktowej powierzchni właściwej oraz do wyznaczania wielkości i dystrybucji porów

Analiza sorpcji fizycznej, chemicznej jak i powierzchni właściwej i wielkości porów z zastosowaniem gazów obojętnych.

Metoda nieniszcząca

Techniki raportowania:
Horvath-Kawazoe-Brunauer, Dubinin (Astakhov i Radushkevich), jedno-dwupunktowy pomiar BET, izoterma adsorpcji/desorpcji, pow. właściwa Langmuir, BJH objętość i pow. mezoporów z modyfikacją Kruk-Jaroniec-Sayari, całkowita objętość porów przy 1 do 2000 punktach pomiarowych P/Po, izotermy odniesienia, metoda MP, de Boer, t-Plot, Saito-Foley.
Ciepło adsorpcji, aktywna powierzchnia metalu, rozmiar katalizatora. 
Format raportu graficzny skalowany w skali liniowej lub logarytmicznej w całym zakresie, możliwość porównywania wykresów oraz nakładania i odejmowania co najmniej 8 izoterm na jednym wykresie.

Mierzona powierzchnia właściwa 0,0005 m2/g do pow.3000 m2/g (z opcją kryptonu od 0,0002 m2/g). Pomiar wielkości mikro- i mezoporów w zakresie od 3,5 do 5000 Å, ich objętości i dystrybucji wielkości oraz całkowitej objętości porów. 
Mierzona objętość mikroporów od 0,0001 cm3/g

Cechy systemu analitycznego:
Przygotowanie i analiza próbki w jednej stacji. Zdolność do wielokrotnej analizy tej samej próbki. 
Czas analizy min. 70 godzin

Próbki: materiały w formie proszków 0,02 – 5 g

E. Kolasińska

B. Boharewicz

TGA/DSC1 Star SystemMETTLER TOLEDO AG

Jednoczesna analiza termograwimetryczna (TG) i skaningowa kalorymetria różnicowa (DSC)

Analiza termiczna łączy krzywe zmiany masy (TG) i efektów cieplnych (DSC) zachodzących w materiale pod określonym reżimem temperaturowym. Jest to szybki sposób określenia stopnia czystości materiału, ilościowego składu chemicznego oraz temperatury pracy, przetwórstwa i degradacji. Analiza termiczna pozwala także oszacować zagrożenie pojawiające się podczas użytkowania badanego materiału, dzięki możliwości szacowania energii wydzielanej lub pochłanianej podczas przemian wywołanych temperaturą.

Jest to szybki sposób określenia stopnia czystości materiału, ilościowego składu chemicznego oraz temperatury pracy, przetwórstwa i degradacji. Analiza termiczna pozwala także oszacować zagrożenie pojawiające się podczas użytkowania badanego materiału, dzięki możliwości szacowania energii wydzielanej lub pochłanianej podczas

Format raportu termogramy zawierające wybrane krzywe lub/i ich pochodne przedstawione w skali temperatury lub czasu pomiaru.

Zakres temperatury:
RT-1100oC

Szybkość nagrzewania:
0,1-50 K/min

 Próbki: materiały ciekłe lub stałe (sypkie i lite)

Masa próbki 10 mg – 5 g

Objętość próbki 70 / 140 μl

 

E. Kolasińska

L. Górecki

Dylatometr automatyczny DA-3

Skomputeryzowane stanowisko do pomiarów dylatometrycznych z możliwością grzania i chłodzenia badanego materiału oraz archiwizacji danych

Pomiar liniowej rozszerzalności cieplnej ciał stałych. Za pomocą tego urządzenia można dokonać m.in. pomiaru, rejestracji i analizy przebiegu temperatury krzepnięcia ciekłego metalu w próbniku pomiarowym.

Istnieje możliwość przygotowania odpowiedniego cyklu grzania i chłodzenia próbki. W zależności od wymagań możliwe jest nagrzewanie lub chłodzenie według różnych strategii - np. z piecem lub ze stałym strumieniem chłodzenia.

Zarejestrowane dane, wraz z dodatkowymi informacjami o dacie i czasie wykonania próby, osobie odpowiedzialnej, rodzaju stopu, jest automatycznie rejestrowana w pamięci komputera. Istnieje możliwość swobodnego odtworzenia z pamięci zarejestrowanych danych w celu dokumentacji przebiegu pomiarów.

Zakres temperatur do pomiaru materiałów 80-1000oC

Maksymalna temperatura pieca 1100oC

Zakres temperatury pracy urządzenia 10-50oC

Wymagania względem próbek:
średnica: max 14 mm, min 7 mm
wielkość: max 60 mm, min 5 mm

K. Kogut

K. Kasprzyk

Generator udarów napięciowych HAEFELY SGSA 700 kV, 35 kJ, siedmiostopniowy

Układ umożliwia generowanie oraz pomiary wysokiego napięcia impulsowego o znormalizowanym kształcie impulsu (1,2/50 ms) jak również przy odpowiedniej modyfikacji połączeń, udarów o stromym naroście czoła.

Badania zgodnie z normą:

PN-EN 60060-1:2011

Wynikiem próby jest stwierdzenie zgodności z normą lub zanotowanie wytrzymywanej wartości napięcia udarowego oraz czasów: narostu i do ucięcia udaru. Możliwa jest rejestracja przebiegu impulsu napięcia wraz z dokładną analizą jego kształtu jak również wydruk zarejestrowanych pomiarów oraz raportu z badań.

Pomiary znormalizowane i strome.

Generator udarów napięciowych 700 kV, 35 kJ jest siedmiostopniowym układem Marxa. Na jeden stopień przypada 100 kV i 5 kJ. Pomiary można wykonywać na próbkach o różnych gabarytach. Najniższe napięcie pomiarowe to około 5-10% napięcia maksymalnego. Maksymalne napięcie reguluje się poprzez modyfikację ilości stopni generatora (100-700 kV).

K. Kogut

H.Brzeziński

Komora manipulacyjna

Komora rękawicowa (dry/glove box) do pracy w kontrolowanej atmosferze. Szczelna komora z przezroczystą ścianą, do której przymocowane są gumowe rękawice z możliwością umieszczenia substancji, z którymi później pracuje się już wewnątrz komory.

 

Komora do pracy nad materiałami w kontrolowanej atmosferze.

Próżnia wytwarzana w komorze rękawicowej i śluzie wynosi minimum 5x10-2 hPa. Gaz roboczy: argon, hel, azot.

Konstrukcja komory umożliwia umieszczenie w niej narzędzi i przyrządów pomiarowych. Śluza wyposażona została w manometr.

A. Szmaja

Mikroskop metalograficzny NIKON MA200

 

Mikroskop Nikon MA 200 jest urządzeniem o konstrukcji odwróconej, niezastąpionej w przypadku konieczności badania próbek dużych lub o nieregularnych kształtach.
Mikroskop i jego wyposażenie pozwalają na stosowanie typowych technik badawczych, stosowanych w metalografii, jasne i ciemne pole, polaryzacja, kontrast interferencyjny Nomarskiego - DIC. Dodatkowo możliwe jest też wyposażenie mikroskopu do badań we fluorescencji, świetle przechodzącym oraz mikroskopii konfokalnej.

Mikroskop metalograficzny wyposażony jest w nowoczesną kamerę. Obraz zostaje podany na komputer, gdzie za pomocą odpowiedniego programu dochodzi do obiektywnej, zautomatyzowanej analizy obrazu.

Bezpośredni odczyt powiększenia mikroskopu w komputerze - zarówno powiększenia obiektywu jak i położenia zmieniacza powiększeń (niezastąpiony dla analizy obrazu).

Mikroskop o konstrukcji "Box Structure", wykorzystujący optykę CFI60 firmy Nikon. System CFI60 gwarantuje nie tylko perfekcyjną jakość obrazu, ale i niedostępne w innych mikroskopach parametry optyczne.

Szeroki zakres powiększeń już od 10X do ponad 2000X.

Brak szczególnych wymagań co do próbki.

B. Boharewicz

Młynek planetarny Pulverissete 7, Fritsch

Młynek planarny służy do rozdrabniania ciał stałych umieszczonych w zawiesinie, aż do uzyskania rozdrobnienia koloidalnego. Umożliwia także mielenie suchych próbek oraz mieszanie i homogenizację emulsji i past.

Cechuje się bardzo wysoką wydajnością mielenia, mimo małej objętości. Rozdrabnianie jest równomierne, powtarzalne i bardzo szybkie.

Próbka materiału jest rozdrabniana poprzez wysokoenergetyczną siłę uderzeniową kulek mielących oraz poprzez tarcie między tymi kulkami a miską, w której są umieszczone.

Rozdrabnianie ciał stałych w zawiesinie do uzyskania rozdrobnienia koloidalnego.

Mielenie suchych próbek oraz mieszanie i homogenizacja emulsji i past.

 

Dane techniczne:
Maksymalne ziarno początkowe 5 mm
Maksymalna objętość początkowa 2x25 ml

Osiągalne rozdrobnienie końcowe około 1 µm.

A. Szmaja

Szerokopasmowy 
analizator impedancji Agilent4991A

Pomiary wielkości elektrycznych: impedancja, rezystancja,  admitancja, pojemność, stratność w szerokim zakresie częstotliwości (od 1MHz do 3GHz) co pozwala na zastosowanie go w badaniach takich materiałów jak: przewodniki superjonowe, nadprzewodniki, elementy półprzewodnikowe (warystory), materiały ceramiczne i kompozytowe, farby, lakiery itd.

Mostek składa się z przystawek: zestawu kalibracyjnego (obciążenie 50 Ohm)

· badania materiałów dielektrycznych 16453A, badania materiałów magnetycznych 16454A.

16453A stosuje metodę równoległej płyty dla pomiarów stałej dielektrycznej i tangensa strat do 1 GHz. Jest to metoda do pomiarów materiałów podłożowych z ciała stałego, takich jak płytki do PC, ceramika lub polimery. Pojedyncze pomiary są możliwe przez umieszczenie materiału pomiędzy elektrody. Ta przystawka pozwala na pomiar przenikalności. 16454A służy natomiast do pomiarów przepuszczalności do 1 GHz na E4991A. Materiały magnetyczne, takie jak miękkie ferryty i rdzenie magnetyczne.

Wymagania względem rozmiarów próbek:
Materiału dielektryczny 16453A: średnica powyżej 15 mm, grubość 1,5 mm, wielkość max 30 mm, min 7 mm

Materiał magnetyczny 16454A:

Małe rozmiary:

 zewnętrzna średnica poniżej 8 mm, wewnętrzna średnica powyżej 3.1 mm, grubość poniżej 3 mm Duże rozmiary: zewnętrzna średnica poniżej 20 mm, wewnętrzna średnica powyżej 5 mm, grubość poniżej 8.5 mm

K. Kogut

Stanowisko do nawijania kompozytowych powłok wzmacniających

Nawijarka do wytwarzania owoju kompozytowego na zbiornikach ciśnieniowych.

Wykorzystywana technika polega na nawijaniu włókna zaimpregnowanego żywicą lub taśmy na podłoże trzpienia o precyzyjnie geometrycznym wzorze. Poprzez ciągłe nawijanie można wytworzyć struktury o właściwościach silniejszych niż stal i przy tym o lżejszej wadze.
Zwój kompozytowy w zależności od przeznaczenia zbiornika można wzmocnić włóknami węglowymi, szklanymi lub bazaltowymi.

Możliwe jest wykonanie wzmocnienia zbiorników przeznaczonych do magazynowania:

metanu pod ciśnieniem 20 MPa, wodoru pod ciśnieniem 90 MPa,  powietrza pod ciśnieniem 30 MPa - stosowanych w napędach pojazdów mechanicznych, azotu pod ciśnieniem 24 MPa do napełniania pływaków awaryjnego wodowania śmigłowców i tlenu lub powietrza pod ciśnieniem 30 MPa.

Monitoring procesu nawijania i sterowania nawijaniem, system zabezpieczenia i kontroli procesu nawijania, symulacja procesów nawijania rur i zbiorników

A. Halama

Spektrofotometr JASCO V-670

Pomiar absorbancji, transmitancji i reflektancji

 

Widmo absorpcji/transmisji/odbicia. Program umożliwia również wyznaczenie funkcji Kramersa – Kroninga, FWHM, powierzchnia pod pikiem, wysokość piku i wartość maksymalna piku.

Zakres widmowy: 250 – 2000 nm
Szerokość wiązki: UV-VIS (0,1 – 10 nm), NIR (0,4 – 40 nm)
Prędkość skanowania 10 nm/min – 4000 nm/min
Skok pomiaru 0,025 nm – 5 nm

Płytka z warstwą nie może być mniejsza niż 15x10 mm

B. Boharewicz

Spin-coater G3P-8

Wytwarzanie cienkich warstw z roztworów.

Struktury jedno- lub wielowarstwowe na różnych podłożach.

Możliwość ustawienia czasu obrotu co 0,1s. Możliwość ustawienia programów z różną prędkością obrotową od 100 do 10000 obr/min. Opcja złożonych programów, np. 1000 obr/min przez 10s i 1500 obr/min przez 20s w jednym programie.

A. Hreniak

B. Boharewicz

Potencjostat – galwanostat Autolab PGSTAT204

Woltamperometria cykliczna, wyznaczanie poziomów HOMO - LUMO

Rejestracja natężenia prądu płynącego przez elektrolit w zależności od przyłożonego napięcia

Wartości napięcia i prądu zapisane w pliku tekstowym

Zakres potencjału ±10 V, prąd maksymalny ±400 mA

Badana substancja jest rozpuszczona w elektrolicie lub naniesiona na elektrodę ITO

I. Tazbir

Stanowiska do badania sprawności modułów fotowoltaicznych Solar Simulator SS100AAA

Wyznaczanie parametrów ogniw fotowoltaicznych takich jak: prąd zwarcia Isc, napięcie obwodu otwartego Voc, współczynnik wypełnienia FF, sprawność PCE, maksymalną moc ogniwa oraz odpowiadające jej napięcie i prąd, rezystywność skrośną i powierzchniową.

Raport zawierający wartości mierzonych parametrów

Źródło światła klasy A (zgodnie z normami E927 i IEC60904-9).
Natężenie promieniowania równe 1000 W/m2z możliwością regulacji.
Pomiar napięć w zakresie od -20 V do 20 V
Pomiar natężenia prądu w zakresie od 1 µA do 1 A.
Pomiar próbek w zakresie temperatur od 0 °C do 60 °C
Możliwość sterowania szybkości pomiaru oraz kierunku zmian polaryzacji napięciowej badanych struktur.

Maksymalna wielkość próbki – 10x10 cm

I. Tazbir

B. Boharewicz

Wysokonapięciowe stanowisko do pomiarów wytrzymałości elektrycznej (w powietrzu lub w warunkach sztucznego deszczu) przy napięciu przemiennym o częstotliwości 50 Hz

Badanie wytrzymałości elektrycznej izolatorów elektroenergetycznych zarówno ceramicznych jak i kompozytowych przy napięciu przemiennym (do 130 kV) o częstotliwości sieciowej wg obowiązujących norm.

Badania zgodnie z normą:

PN-EN 60060-1:2011

Wynikiem próby jest stwierdzenie zgodności z normą lub zanotowanie wytrzymywanej wartości napięcia przemiennego o częstotliwości sieciowej 
w odpowiednich warunkach pomiaru. Możliwe jest dokonywanie pomiarów w warunkach sztucznego deszczu..

Próbki do badań zgodne z normami na izolatory ceramiczne i kompozytowe. Izolatory niskiego, średniego i wysokiego napięcia.

K.Kogut

H.Brzezinski

Układ do pomiaru wytrzymałości mechanicznej na zginanie i ściskanie

Układ umożliwia sprawdzenie wytrzymałości mechanicznej na zginanie i ściskanie próbek ceramicznych i wykonanych z tworzyw sztucznych. Badaną próbkę umieszcza się pomiędzy szczękami maszyny na podpórkach. W wyniku nacisku górnej szczęki sprawdza się wytrzymałość mechaniczną badanej próbki. Badanie wytrzymałości mechanicznej na zginanie i ściskanie materiałów.

Badania zgodnie z normami:

PN-EN 61109:2010;

PN-EN 62217:2013-06;

PN-EN 62231:2008;

PN-EN 60099-4:2014;

PN-EN61952:2010;

PN-EN 60660:2002;

PN-EN 60137:2010

Wynikiem próby jest stwierdzenie zgodności z normą lub zanotowanie wytrzymywanej wartości siły zginającej lub ściskającej badaną próbkę. Na jej podstawie możliwe jest wyznaczenie wytrzymałości na zginanie i ściskanie.

Próbki w formie beleczek lub walców zgodnie z obowiązującymi normami.

Maksymalny rozstaw podpórek maszyny to 200 mm.

K.Kogut

K.Kasprzyk

R.Kłoś

Układ do pomiaru rezystancji skrośnej i powierzchniowej (do 1014 W) materiałów ceramicznych

w temperaturze otoczenia jak i w funkcji temperatury do 800 oC.

Badanie rezystancji skrośnej i powierzchniowej (a po uwzględnieniu wymiarów próbek – rezystywności skrośnej i powierzchniowej) materiałów ceramicznych.

Badania zgodnie z normą:

IEC 60672-2

Wynikiem próby jest wyznaczenie wartości rezystancji skrośnej i powierzchniowej (a po uwzględnieniu wymiarów próbek – rezystywności skrośnej

i powierzchniowej) i stwierdzenie zgodności z normą.

Pomiar rezystancji w zakresie od 105do 1014 W przy napięciu pomiarowym 10, 100 oraz 1000 V.

Temperatura pomiaru do 800oC.

Próbki muszą być przygotowane w formie dysków z naniesionymi elektrodami o znormalizowanych wymiarach.

K.Kogut,

 

Układ do prób termomechanicznych izolatorów elektroenergetycznych.

Badanie wytrzymałości izolatorów elektroenergetycznych wiszących podczas próby termomechanicznej. Próba polega na cyklicznym chłodzeniu i grzaniu naciągniętego do odpowiedniej siły, łańcucha izolatorów.

Badania zgodnie z normami:

PN-EN 61109:2010;

PN-EN 62217:2013-06

Wynikiem próby jest sprawdzenie wytrzymałości termomechanicznej badanych izolatorów. W razie braku wyraźnych oznak zniszczenia próbki wykonywane jest badanie wytrzymałości mechanicznej na rozciąganie i wyznaczenie wytrzymywanej wartości siły rozciągającej.

Układ umożliwia nastawienie siły rozciągającej do maksymalnej wartości ok. 70 kN.

Komora temperaturowa umożliwia nastawienie temperatury, w której wykonywane są próby w zakresie 
-30°C do +40 oC. Programator umożliwia nastawienie powtarzalnego cyklu zmiany temperatury.

K.Kogut

K.Kasprzyk

H.Brzeziński

Układ do próby odporności na nagłe zmiany temperatury izolatorów ceramicznych

i kompozytowych.

Badanie odporności na nagłe zmiany temperatury izolatorów wg obowiązujących norm. Próba polega na cyklicznym grzaniu i chłodzeniu izolatorów zanurzonych w cieczy 

o odpowiedniej temperaturze.

Badania zgodnie z normami:

PN-EN 62217:2013-06;

PN-EN 62231:2008;

PN-EN 60099-4:2014;

PN-EN61952:2010;

PN-EN 60660:2002

Wynikiem próby jest sprawdzenie odporności na nagłe zmiany temperatury badanych izolatorów. W razie braku wyraźnych oznak zniszczenia próbki podczas oględzin, wykonywane jest badanie wytrzymałości mechanicznej i wyznaczenie wytrzymywanej wartości siły rozciągającej lub zginającej.

Układ umożliwia nastawienie temperatury w zbiornikach z cieczą w zakresie 16°C – 100 oC. Komora o wysokości 1500 mm oraz średnicy 300 mm.

 

K.Kogut,

K.Kasprzyk

H.Brzezinski

Stanowisko pomiarowe do badania gęstości, porowatości oraz nasiąkliwości materiałów

Badanie gęstości, porowatości i nasiąkliwości materiałów.

Badania zgodnie z normą:

IEC 60672-2

Wynikiem próby jest określenie gęstości, porowatości i nasiąkliwości badanych próbek i stwierdzenie spełniania norm dla badanych materiałów.

Próbki do badań: W zależności od badanego materiału – zgodnie z obowiązującymi normami. W przypadku izolatorów ceramicznych do badań stosuje się niewielkie przełamy czerepów izolatorów bez powierzchni szkliwionych.

Waga analityczna o dokładności 0,0001 g.

K.Kogut

R.Kłoś

K.Kasprzyk

Stanowisko pomiarowe do badania odporności materiałów na działanie grzybów pleśniowych

wg obowiązujących norm

 

Badanie odporności materiałów na działanie grzybów pleśniowych.

Badania zgodnie z normą:

PN-EN ISO 846

Wynikiem próby jest określenie odporności materiałów na działanie grzybów pleśniowych wg obowiązujących norm

Próbki do badań:

W zależności od badanego materiału – zgodnie z obowiązującymi normami. Najczęściej stosowane są płaskie dyski o średnicy ok. 50 mm.

R. Kłoś

Stanowisko pomiarowe do badania pojemności cieplnej materiałów

Badanie pojemności cieplnej materiałów.

Badania zgodnie z normą:

IEC 60672-2

Wynikiem próby jest wyznaczenie pojemności cieplnej materiałów i stwierdzenie spełnienia obowiązujących norm

 

Próbki do badań:

W zależności od badanego materiału – zgodnie z obowiązującymi normami. Najczęściej stosowane są dyski o średnicy 15 – 60 mm i grubości 7 – 10 mm. Dopuszcza się stosowanie próbek o dowolnym kształcie i wymiarach liniowych do 60 mm. Masa próbki powinna wynosić 30 – 80 g.

K.Kogut

K.Kasprzyk

Stanowisko pomiarowe do badania przewodności temperaturowej materiałów (w przedziale temp. 20°C – 100oC).

Badania przewodności temperaturowej materiałów (w przedziale temp. 20°C – 100 oC).

Badania zgodnie z normą:

IEC 60672-2

Wynikiem próby jest wyznaczenie przewodności temperaturowej materiałów  (w przedziale temp. 20 – 100 oC)  i stwierdzenie spełnienia obowiązujących norm

Termostat do stabilizowania próbek w temp. 20 oC ±0,5 oC i wilgotności względnej powietrza 65% ±5%.

Sekundomierz o dokładności odczytu 0,1 s.

Grubościomierz do pomiaru grubości próbek z dokładnością do 0,01 mm.

Próbki do badań: dyski o płaskich i równoległych podstawach o średnicy 50 – 60 mm i grubości 7 – 10 mm.

K.Kogut

K.Kasprzyk

Stanowisko do badania wytrzymałości elektrycznej materiałów izolacyjnych na przebicie w oleju

Badanie wytrzymałości elektrycznej materiałów izolacyjnych na przebicie w oleju.

Badania zgodnie z normą:

PN-EN 60243-1

IEC 60672 -2

Wynikiem próby jest stwierdzenie zgodności z normą oraz zanotowanie wytrzymywanej wartości natężenia pola elektrycznego.

Wartości napięcia przykładanego do próbek w zakresie 0 – 100 kV. Wymiary próbek: średnica od 55 mm do 120 mm, grubość od 2,5 mm do 6 mm.

M. Wałecki

K.Kogut

Układ do próby odporności na nagłe zmiany temperatury materiałów elektroizolacyjnych

Układ umożliwia przeprowadzenie próby odporności na nagłe zmiany temperatury materiałów elektroizolacyjnych. Próbki podgrzewane są do temperatury 220oC a następnie gwałtownie chłodzone w zbiorniku z wodą o temperaturze ok 20 oC. Po szokach temperaturowych próbki pokrywa się za pomocą barwnika i wizualnie określa możliwość pęknięć powierzchniowych. W ten sposób określa się odporność na szoki termiczne.

Wynikiem próby jest sprawdzenie odporności na nagłe zmiany temperatury materiałów elektroizolacyjnych zgodnie z normą.

 

Komora grzewcza o możliwości nagrzania próbek do żądanej temperatury z dokładnością ±5oC. Naczynie z przepływem wody chłodzącej o temperaturze 10 – 20oC. 

Termometr do pomiaru temperatury wody z dokładnością ±1oC. Próbki w formie beleczek.

K.Kogut

K.Kasprzyk

R.Kłoś

Stanowisko do badania przyrostu temperatury izolatorów przepustowych.

Izolatory obciąża się długotrwale ich prądem znamionowym 
o częstotliwości 50 Hz za pomocą zbudowanego układu silnoprądowego. Podczas zasilania mierzy się wzrost temperatury najgorętszej części izolatora, czyli sworznia przewodzącego prąd, do czasu ustalenia się jego temperatury. Maksymalny przyrost temperatury sworzni izolatorów podczas próby powinien być mniejszy od dopuszczalnego według normy.

Badania zgodnie z normą:

PN-EN 60137:2010

Wynikiem próby jest stwierdzenie zgodności z normą oraz zanotowanie najwyższych wartości przyrostu temperatury przy znamionowym prądzie izolatora.

Układ z wymuszalnikiem prądowym do 1000 A. Próbki do badań zgodne z obowiązującymi normami.

K.Kogut

System do pomiaru dynamicznych właściwości magnetycznych materiałów magnetycznie miękkich

MAG 3.0

Pomiar dynamicznych właściwości magnetycznych materiałów magnetycznie miękkich w postaci próbek paskowych i pojedynczego arkusza (blachy elektrotechniczne - rama Epsteina, SST) oraz próbek toroidalnych (m.in. blachy elektrotechniczne, materiały ferrytowe, amorficzne, nanokrystaliczne, dielektromagnetyki).

Badania zgodnie z normami:

PN-EN 10107:2014-06

PN-EN 10106:2016-01

PN-EN 60404-2:2003/A1:2008

PN-EN -60404-4:2003/A2:2009

PN-EN 10280+A1:2007

Właściwości magnetyczne badanych obiektów takie jak: indukcja magnetyczna B, polaryzacja magnetyczna J, stratność czynna, stratność bierna, przenikalność magnetyczna amplitudowa, przenikalność magnetyczna różniczkowa, natężenie pola magnetycznego H, remanencja Br, Koercja Hc,

Zakres pomiaru:

Częstotliwość f – od 3 do 1 000 Hz

Indukcja B – od 0,01 T do 2,5 T

Natężenie pola magnetycznego H od 0,4 do 10 000 A/m

I. Tazbir

A. Szmaja

System do badania dynamicznych właściwości magnetycznych materiałów amorficznych i nanokrystalicznych

Pomiar dynamicznych właściwości magnetycznych rdzeni z materiałów amorficznych i nanokrystalicznych

Właściwości magnetyczne badanych obiektów takie jak: indukcja magnetyczna B, polaryzacja magnetyczna J, stratność czynna, stratność bierna, przenikalność magnetyczna amplitudowa, przenikalność magnetyczna różniczkowa, natężenie pola magnetycznego H, remanencja Br, Koercja Hc,

Zakres pomiaru:

Częstotliwość f – od 20 Hz do 600 kHz

Indukcja B – od 0,01 T do 2,0 T

 

I. Tazbir

A. Szmaja

ATLAS 0531 Electrochemical Unit and Impedance Analyzer

Pięcioelektrodowy przyrząd realizuje funkcje potencjostatu i galwanostatu oraz zastosowania technik impedancyjnych w badaniach układów elektrochemicznych.

Badania obejmują potencjometrię, woltamperometrię elektrochemiczną spektroskopię impedancyjną oraz pomiar potencjału swobodnego.

Maksymalny zakres pomiaru prądu  1A

Minimalny zakres pomiaru prądu 10 nA

Zakres częstotliwości pomiaru impedancji :

- minimalna częstotliwość 100 μHz

- maksymalna częstotliwość 100 kHz

Zakres impedancji pomiarowej:

- minimalna 1 Ω

- maksymalny 100 MΩ

Zakres pomiaru temperatury -50°C do +150°C

A. Szmaja

Stanowisko do pomiarów odporności próbki na prądy pełzające FRIBORG

Badania odporności na prądy pełzające wykonywane są zgodnie z normami:

PN-EN 60112:2003

PN-EN 60112-2:2003/A1:2010.

Wynikiem jest klasa materiału, określająca odporność na działanie prądów pełzających. Materiałowi można nadać określoną klasę, jeśli przez okres 6 godzin

Płytki materiału o wymiarach nie mniejszych niż 50mm x 50mm i grubości

M. Wałecki

Stanowisko do badania odporności próbki prądy pełzające i erozję

Badania odporności na prądy pełzające wykonywane są zgodnie z normami (tzw. próba pochyła). Badania zgodnie z normami:

PN-EN 60587

Wynikiem jest klasa materiału, określająca odporność na działanie prądów pełzających. Materiałowi można nadać określoną klasę, jeśli przez okres 6 godzin działania prądów pełzających przy zwilżaniu elektrolitem, wartość prądu nie przekroczyła 60mA przez czas dłuższy niż 2s.

Płytki materiału o wymiarach co najmniej 120 mm x 50 mm i grubości od 6 mm do 12 mm (minimum 5 sztuk)

M. Wałecki

Stanowisko do badania odporności na zagrożenia ogniowe: Metoda rozżarzonego drutu

Badania palności wykonywane są zgodnie z normami:
PN-EN 60695-2-10:2013-12E

PN-EN 60695-2-11:2015

PN-EN 60695-2-12:2011

PN-EN 60695-2-12:2011/A1:2014-10

PN-EN 60695-2-13:2011

PN-EN 60695-2-13:2011/A1:2014-10

Wynikiem jest palność/niepalność materiału w pod wpływem rozżarzonego drutu w temperaturze określonej wymaganiami normy

Materiały i wyroby elektrotechniczne

J. Warycha

Stanowisko do badania Indeksu tlenowego

Badania palności wykonywane są zgodnie z normami:
PN-EN ISO 4589-1:2011

PN-EN ISO 4589-2:2006/A1:2006

Wynikiem jest najniższe stężenie tlenu przy którym próbka nie pali się

Tworzywa sztuczne, Przewody elektryczne:

- dł 80-150, szer 10+/-0,5 , gr. 4+/-0,5 –mat. Formowane 10+/-0,5 - mat porowate

<=10,5 - płyty bez obróbki, - dł. 70-150, szer. 6,5, gr. 3 – mat. elektrotechniczne

- dł 140 szer 52+/-0,5,  gr <=10,5 - giętkie folie i płyty, - dł. 140-200, szer. 20, gr. 0,05-0,1 - Folia bez obróbki, mogąca nawinąć się na pręt

J. Warycha

Stanowisko do badania Odporności na pionowe rozprzestrzenianie płomienia. Zagrożenie ogniowe płomieniem mieszankowym 1kW

Badania palności wykonywane są zgodnie z normami:

PN-EN 60332-1-2:2010

PN-EN 60332-1-2:2010/A1:2016-02

PN-EN 60332-2-2:2010

PN-EN 60332-1-1:2010

PN-EN 60332-1-1:2010/A1:2016-02

PN-EN 60695-11-2:2014-07

Wynikiem jest palność/niepalność materiału w warunkach narażenia ogniowego określonego wymaganiami normy

Przewody izolowane, kable elektryczne, kable światłowodowe, przewody grzejne:

Przewód lub kabel dł 600 +/-25mm

J. Warycha

Stanowisko do badania kategorii palności. 
Metody badań płomieniem probierczym 50W przy poziomym i pionowym ustawieniu próbki

Badania palności wykonywane są zgodnie z normą:

PN-EN 60695-11-10:2014-02E

Wynikiem jest kategoria palności materiału

Materiały elektroizolacyjne stałe: Długość: 125+/- 5 
szerokość: 13,0+/-0,5 
grubość: 0,1; 0,2; 0,4; 0,75; 1,5; 3; 6; 12

J. Warycha

Stanowisko do badania odporności na udarność (próba Izoda)

W badaniu wyznaczana jest odporność materiału na udar mechaniczny wywoływany uderzeniem wahadłem.

Badanie zgodnie normą:

PN-EN ISO 180:2004.

Wynikiem jest wartość średnia oraz odchylenie standardowe udarności materiału.

Próbki, w zależności od materiału, przygotowuje się w formie beleczek lub beleczek z karbem.

M. Wałecki

Stanowisko do badania rezystancji, rezystywności skrośnej i powierzchniowej

Pomiar przeprowadzany jest z wykorzystaniem elektrometru charakteryzującego się dużą czułością pomiarową prądu. Przy użyciu odpowiedniego układu elektrod możliwe jest dokonanie pomiarów rezystywności aż do 10^16 Ohm.

Badania zgodnie z normami:

PN-EN ISO 3915

IEC 60093:1980

IEC 60167:1964

PN-EN 60672-2:2002

Wynikiem badania jest wartość średnia (wykonuje się serię pomiarów na kilku próbkach) oraz odchylenie standardowe wartości rezystywności skrośnej oraz powierzchniowej. Na życzenie klienta możliwe jest zarejestrowanie krzywej deelektryzacji próbki w funkcji czasu.

Zakres pomiarowy: 10^6-10^16 Ohm.

Płyty o wymiarach 100mm x 100mm i o grubości ok. 3mm.

M. Wałecki

Stanowisko do badania kąta stratności oraz przenikalności dielektrycznej

Wykonywanie pomiarów przenikalności elektrycznej oraz współczynnika strat w zakresie częstotliwości 15 Hz -300 MHz (wynika z norm). Stanowisko TETTEX umożliwia pomiar przy 50 Hz (częstotliwość sieciowa) do 2000 V a stanowisko QUADTECH  w zakresie 12hz do 200k Hz przy napięciu od 5mV o 1,275 V. Zasada pomiaru polega na zmierzeniu składowych szeregowego lub równoległego układu zastępczego kondensatora z dielektrykiem ze stratami dielektrycznymi, stanowiącego badaną próbkę.

Badania zgodnie z normami:

PN-86/E-04403

IEC 60250:1969

PN-EN 60672-2:2002

Wynikiem jest wartość średnia oraz odchylenie standardowe wartości kąta stratności oraz przenikalności dielektrycznej.

Przygotowanie próbek:

Średnica 100mm

Grubość 3 mm

Naparowywanie srebra metodą próżniową (warstwa około 300um)

Średnica elektrody pomiarowej 50mm

Średnica elektrody napięciowej 75mm

Pojemność elektryczna  i współczynnik strat pozwalający wyliczyć przenikalność

M. Wałecki

Mikroskop sił atomowych (AFM) Innova firmy Bruker

Mikroskop umożliwia badania powierzchni próbki w skali mikrometrowej oraz submikrometrowej, z wykorzystaniem krzemowej sondy skanującej. W zależności od zastosowanej sondy i użytego trybu pomiarowego, możliwe jest uzyskanie szerokiego spektrum informacji o właściwości próbek.

Mikroskop umożliwia również przeprowadzanie lokalnej modyfikacji powierzchni technikami nanoindentacji, nanoscratchingu oraz lokalnego utleniania.

Wynikiem badania jest w zależności od trybu powierzchni:

- mapa topografii (obrazowanie ilościowe w 3D),

- parametry chropowatości powierzchni oraz wymiarów obserwowanych struktur, - mapa niejednorodności oddziaływań lepkosprężystych, - mapa sztywności powierzchni, - mapa sił tarcia powierzchni, - mapa oddziaływań elektrostatycznych, - mapa oddziaływań magnetycznych, - mapa potencjałów kontaktowych (umożliwiająca obliczenie pracy wyjścia), - mapa stałej piezoelektrycznej, - mapa temperatury oraz przewodności cieplnej powierzchni, - krzywe spektroskopii sił umożliwiające wyznaczenie właściwości mechanicznych powierzchni.

Planarny zakres skanowania: 0,1mm x 0,1mm zakres skanowania w pionie 0,007mm. Planarna rozdzielczość obrazowania:  0,1nm, pionowa rozdzielczość obrazowania: 0.01 nm. Zakres temperatur obrazowania: 20-60oC.

Wymiary próbek: 30mm x 30 mm x 10 mm. Możliwe jest badanie proszków, jednak konieczne jest naniesienie ich na powierzchnię.

A. Sikora

M. Moczała

Mikroskop sił atomowych DI 3000

Mikroskop umożliwia badania powierzchni próbki w skali mikrometrowej oraz submikrometrowej, z wykorzystaniem krzemowej sondy skanującej. W zależności od zastosowanej sondy i użytego trybu pomiarowego, możliwe jest uzyskanie szerokiego spektrum informacji o właściwości próbek.

Wynikiem badania jest w zależności od trybu powierzchni: - mapa topografii (obrazowanie ilościowe w 3D), - parametry chropowatości powierzchni oraz wymiarów obserwowanych struktur, - mapa sił tarcia powierzchni, - krzywe spektroskopii sił umożliwiające wyznaczenie właściwości mechanicznych powierzchni.

Planarny zakres skanowania: 0,1mm x 0,1mm zakres skanowania w pionie 0,005mm. Planarna rozdzielczość obrazowania:  0,5nm, pionowa rozdzielczość obrazowania: 0.1 nm. Zakres temperatur obrazowania: 20-60stC.

Wymiary próbek: 200mm x 200 mm x 30 mm. Możliwe jest badanie proszków, jednak konieczne jest naniesienie ich na powierzchnię.

A. Sikora

M. Moczała

Komora klimatyczna Feutron

Komora umożliwia poddanie obiektu działaniu wysokiej i niskiej temperatury oraz wysokiej i niskiej wilgotności, w tym także zgodnie ze zdefiniowanymi profilami zmian temperatury oraz wilgotności.

Badania zgodnie z normami:

PN-EN 60684-2:2001

PN-EN 60068-2-1:2009

PN-EN 60068-2-2:2009

PN-EN 60068-2-14:2009

PN-EN 60068-2-30:2008

PN-EN 60068-2-31:2010

PN-EN 60068-2-33:2002

PN-EN 60068-2-38:2010

PN-EN 60068-2-78:2007

Wynikiem badania, w zależności od sposobu weryfikacji, jest informacja o reakcji/ zmianie właściwości obiektu badanego poddanego działaniu warunków klimatycznych.

Zakres temperatur:

 -70 do +90oC

Zakres wilgotności: 25%-95%

Gabaryty komory: 720mm x 700mm x 950mm.

M. Wałecki A. Sikora

Komora narażeń na symulowane promieniowanie słoneczne Atlas Ci65

Komora umożliwia poddanie obiektu działaniu symulowanego promieniowania słonecznego emitowanego przez lampę ksenonową.

Badania zgodnie z normami:

PN-EN 60068-2-5:2002

PN-EN ISO 4892-2:2009/A1:2009

Wynikiem badania, w zależności od sposobu weryfikacji, jest informacja o reakcji/ zmianie właściwości obiektu badanego poddanego działaniu warunków klimatycznych.

Temperatury  +40 °C lub 55 °C,

Wilgotność względna 65% ÷ 90%

Moc lampy ksenonowej 6500 W

powierzchnia naświetlania próbek 7200cm2

Typowe wymiary próbek: 70mm x 140mm x 5mm. W przypadku nietypowych gabarytów, możliwość wykonania badań musi być skonsultowana z personelem

M. Wałecki A. Sikora

Temperatura mięknienia według Vicata i temperatura ugięcia pod obciążeniem (HDT)

Temperatury charakterystyczne będące podstawą klasyfikacji tworzyw

PN-EN ISO 306:2006
ASTM D 1525-09
PN-EN ISO 75-1:2006
PN-EN ISO 75-2:2006
PN-EN ISO 75-3:2005
ASTM D 648-7

Oznaczenie temperatur charakterystycznych dla badanych materiałów

Próbki: 10 x 14 x 100 mm

Maks temp. 290 oC

E.Kolasińska

Komora gazowa z wilgotnym SO2

PN-EN ISO 3231:2000 Farby i lakiery. Określenie odporności na działanie wilgotnej atmosfery zawierającej SO2.

PN-85/H-04636. Korozja metali. Badania laboratoryjne przyspieszone w atmosferze  dwutlenku siarki z kondensacją wilgoci.

PN-EN ISO 6988:2000

Powłoki metalowe i inne nieorganiczne -- Próba z dwutlenkiem siarki z ogólną kondensacją wilgoci

Ocena odporności na działanie wilgotnego SO2

Parametry zgodne z wytycznymi nor, wielkość próbek i czas narażania uzgodniony z Klientem.

A. Halama

Komora solankowa

MS 600 

PN-EN ISO 9227 :2012 Badania korozyjne w sztucznych atmosferach - Badania w rozpylonej solance

Ocena odporności na korozję w atmosferze mgły solnej

Parametry komory pojemność – 620 dm3 długość – 1040 mm, szerokość- 630 mm,  wysokość - 1200 mm.

Wielkość próbek do badań zgodna z wymagania norm. Czas narażania uzgodniony z Klientem.

A. Halama

 

Ten serwis używa Cookies i podobnych technologii.
Brak zmiany ustawień przeglądarki oznacza zgodę na zapisywanie tych plików w pamięci urządzenia.
© Copyright 2006 IEL/OW
Produkcja (2006) Impact Media.