Strona główna » Aparatura badawcza

Aparatura badawcza

Usługi świadczone na aparaturze zakupionej dzięki dofinansowaniu z funduszu EFRR

System pomiarowy AFM
Aparatura oferuje pomiar szerokiego spektrum właściwości fizycznych.
Mikroskopia sił atomowych – AFM (ang. Atomic Force Microscopy), umożliwia pomiar właściwości powierzchni w skali od pojedynczych nanometrów (skala molekularna) do setek mikrometrów. Uznawana jest za jedną z najbardziej uniwersalnych i wszechstronnych narzędzi w rozwoju nanotechnologii. Znalazła zastosowanie do różnych badań w tym biologicznych, chemicznych. Pozwala (dzięki poznaniu budowy obiektu w skali nano) zbadać wpływ na jego właściwości makroskopowe oraz optymalizować parametry technologii wytwarzania materiałów i gotowych produktów.




Szczegółowych informacji udziela i przyjmuje zamówienia:
dr hab. inż. Andrzej Sikora, prof. IEl
tel. 71 328 30 61 w.104

więcej informacji >>


Derywatograf TGA/DSC1 (SF 1100oC) firmy Mettler-Toledo AG - do jednoczesnej analizy TGA/DTA
Skomputeryzowane urządzenie do badań termoanalitycznych, które umożliwia badanie efektów cieplnych oraz ubytków masy przy zaprogramowanym wzroście temperatury bądź w warunkach izotermicznych, w atmosferze powietrza lub w gazach obojętnych.

Parametry:
  • Zakres temperatury: RT…1100oC,
  • Dokładność pomiaru temperatury: ± 0,3 K,
  • Szybkość nagrzewania: 0…150 K/min,
  • Czas ogrzewania: (RT…1100oC) 10 min,
  • Czas chłodzenia: (1100oC) 22 min,
  • Zakres ważenia termowagi: min. 1,1 g,
  • Objętość próbki: do 900 μL,
  • Dokładność odczytu wagi: 1,0 mg,
  • Kontroler dopływu dwóch gazów reakcyjnych - sterowanie z oprogramowania,
  • Oprogramowanie umożliwiające obserwacje on-line krzywych TG i DSC (przeliczanej z DTA), operacje na krzywych, opracowywanie wyników pomiaru.




Szczegółowych informacji udziela i przyjmuje zamówienia:
dr hab. inż. Barbara Górnicka, prof. IEl
tel. 71 328 30 61 w.410



Szerokopasmowy analizator impedancji
Analizator impedancji Agilent4991A umożliwia wykonanie pomiarów wielkości elektrycznych (m.in. impedancja, rezystancja, admitancja, pojemność, stratność) w zakresie częstotliwości od 1MHz do 3GHz, co pozwala na zastosowanie go w badaniach takich materiałów jak: przewodniki superjonowe, nadprzewodniki, elementy półprzewodnikowe (warystory), materiały ceramiczne i kompozytowe, farby, lakiery itd.




Szczegółowych informacji udziela i przyjmuje zamówienia:
dr inż. Jacek Chmielowiec
tel. 71 328 30 61 w.209



Stanowisko do nawijania kompozytowych powłok wzmacniających
Stanowisko przeznaczone do wykonywania prac badawczych i technologicznych nawijanych tworzyw kompozytowych m.in. technologii wytwarzania zbiorników na CNG. Pozwoli stworzyć podstawy do wytwarzania zbiorników ciśnieniowych na wodór, którego magazynowanie w pojazdach stwarza obecnie podobne problemy techniczne między innymi do zasilania ogniw paliwowych.




Szczegółowych informacji udziela i przyjmuje zamówienia:
dr inż. Agnieszka Halama
tel. 71 328 30 61 w.028



Aparatura do pomiaru powierzchni właściwej i porowatości
System pomiarowy przeznaczony do sporządzania izoterm adsorpcji i desorpcji gazów analitycznych na ciele stałym w zakresie ciśnień od 0 do 950 mmHg. Na podstawie charakterystyk system oblicza podstawowe parametry opisujące jakość i efektywność różnych materiałów, tzn. powierzchnię właściwą i porowatość, bazując na teoriach DFT, Horvatha-Kawazoe, t-Plot, Dubinina-Astakhova, Dubinina-Radushkevica, BJH, izoterm Langmuira, BET, Freundlicha i innych. Uzyskane wyniki są prezentowane w postaci wartości średnich, rozkładów, wykresów obrazujących szybkość zmian, w przeliczeniu na jednostkę masy, powierzchni, objętości.

Najważniejsze dodatkowe cechy:
  • dwa niezależne systemy pomp próżniowych (pompy turbomolekularne i membranowe) umożliwiające równoległe przygotowanie i analizę próbek począwszy od ciśnień mniejszych niż 3,8 · 10-9 mmHg w temperaturze ciekłego azotu,
  • zautomatyzowany układ odgazowania w zadanej temperaturze do 450 °C,
  • stacja gazów analitycznych m.in. azot, argon, CO2, krypton, wodór, mieszaniny gazów,
  • pomiar sorpcji pary wodnej,
  • rejestracja szybkości zjawisk adsorpcji i desorpcji.




Szczegółowych informacji udziela i przyjmuje zamówienia:
dr inż. Agnieszka Halama
tel. 71 328 30 61 w.028



Mikroskop skaningowy + przystawka EDS
Aparatura służy do badań mikrostruktury w skali ułamków mikrometrów z jednoczesną analizą składu chemicznego.




Szczegółowych informacji udziela i przyjmuje zamówienia:
dr hab. inż. Witold Miecarek, prof. IEl
tel. 71 328 30 61 w.308



Stanowisko do ciągłego odlewania taśm amorficznych
Umożliwia otrzymywanie amorficznych i nanokrystalicznych taśm materiałów magnetycznie miękkich i twardych metodą ciągłego odlewania. Wytworzone tą metodą materiały nanokrystaliczne znajdą zastosowanie w elektronice, w elektrotechnice oraz jako absorbery promieniowania elektromagnetycznego.

Stanowisko składa z następujących podzespołów:
  • Komory próżniowej (topielnej) - próżnia poniżej 10-5 mbar, nadciśnienie dla gazów obojętnych (N2, He2, Ar2) maks. 1000 mbar,
  • Generatora wysokiej częstotliwości - zakres częstotliwości 50..130 kHz,
  • Cewki indukcyjnej (topielnej),
  • Bębna odlewniczego o średnicy 200 mm i szerokości B=40 mm,
  • Tygla odlewniczego kwarcowego, z zamknięciem umożliwiającym podanie gazu nad powierzchnie stopionego metalu i odlanie taśmy o grubości większej niż 5 μm i szerokości 10 mm.,
  • Układu mocowania i regulacji położenia tygla,
  • Układu pomp próżniowych: pompa rotacyjna i pompa turbomolekularna, z póżniomierzem,
  • Układu regulacji i pomiaru ciśnienia w zbiorniku próżniowym,
  • Pirometru optycznego do pomiaru temperatury metalu w tyglu - zakres pomiarowy 700-1800°C,
  • Układu napędu i sterowania prędkością obrotową bębna odlewniczego:
    prędkość obrotowa bębna 300..6000 obr/min.,
    dokładność regulacji 1m/s przy średnicy bębna D=200 mm.,
  • Układu do inicjacji odlewu.



Szczegółowych informacji udziela i przyjmuje zamówienia:
dr inż. Grzegorz Paściak
tel. 71 328 30 61 w.325




Spektrofotometr dwuwiązkowy UV-Vis firmy JASCO V-670
Spektrofotometr dwuwiązkowy UV-Vis JASCO V-670, wykorzystywany jest do pomiarów transmisji (absorbancji) roztworów oraz transmisji i odbicia zwierciadlanego próbek stałych zarówno związków organicznych, jak i nieorganicznych.
Pomiary dwuwiązkowe, w zakresie pomiarowym od 190 do 2700 nm mogą być prowadzone ze zmienną szerokością szczeliny oraz regulowaną szybkością pomiaru. Pomiary mogą być prowadzone w różnych rozpuszczalnikach jak też w postaci cienkich warstw (powłok) na podłożu szklanym lub kwarcowym.
Program SPECTRA MENAGER do analizy widm pozwala m.in. na wyznaczanie grubości warstw, współczynnika załamania i ekstynkcji oraz przerwy energetycznej optycznej.




Szczegółowych informacji udziela i przyjmuje zamówienia:
dr hab. Agnieszka Iwan, prof. IEl
tel. 71 328 30 61 w.420




System do pomiaru charakterystyk prądowo-napięciowych krzemowych i organicznych ogniw fotowoltaicznych wraz z symulatorem promieniowania słonecznego
Urządzenie służy do pomiaru charakterystyk prądowo-napięciowych krzemowych i organicznych ogniw fotowoltaicznych. Pomiary wykonywane są bez lub podczas naświetlania ogniwa za pomocą symulatora promieniowania słonecznego (widmo promieniowania odpowiadające klasie A, zgodnie z normami E927 i IEC60904-9, jednorodność promieniowania na całej oświetlanej powierzchni oraz czasowa stabilność promieniowania odpowiadające klasie A, zgodnie z normami E927 i IEC6094-9, natężenie promieniowania minimum 1000 W/m2)

System pomiarowy charakteryzuje się następującymi parametrami:
  • Precyzyjny pomiar w zakresie napięć, co najmniej od -20V do +20V;
  • Precyzyjny pomiar w zakresie prądów, co najmniej od 100 pA do 1A;
  • Stolik pomiarowy z regulowaną temperaturą z zakresie od 0 do 60 °C pozwalający na pomiary struktur do wielkości 100 mm x 100 mm wraz z systemem sterownia próżnią, wyposażony w pompę,
  • Sondy pomiarowe pozwalające na pomiar struktur o różnych wielkościach (minimalne wymiary mierzonych struktur: 10 x 10 mm),
  • Możliwość sterowania szybkości pomiaru oraz kierunku zmian polaryzacji napięciowej badanych struktur,
  • Możliwość kontroli temperatury oraz natężenia światła w trakcie wykonywania pomiarów jasnych oraz ciemnych,
  • Wykalibrowany czujnik natężenia promieniowania do pomiaru struktur cienkowarstwowych z filtrem w zakresie 0,3 – 0,9 µm w obudowie mechanicznej.

 

Urządzenie pozwala określić takie wartości parametrów fotowoltaicznych jak sprawność (z ang. power conversion efficiency, PCE), współczynnik wypełnienia (z ang. fill factor, FF) czy też napięcie rozwarcia (z ang. open circuit voltage, Voc) i prąd zwarcia ogniwa (z ang. short circuit current, Jsc).
Urządzenie służy do pomiaru parametrów fotowoltaicznych ogniw słonecznych organicznych i nieorganicznych o różnej architekturze ogniwa (ogniwa warstwowe, objętościowe, tandemowe, odwrócone).
Ogniwa słoneczne organiczne (polimerowe) o różnej architekturze są konstruowane w Instytucie Elektrotechniki we Wrocławiu poprzez zastosowanie techniki wirowania i metody naparowywania termicznego.

Szczegółowych informacji udziela i przyjmuje zamówienia:
dr hab. Agnieszka Iwan, prof. IEl
tel. 71 328 30 61 w.420



Ten serwis używa Cookies i podobnych technologii.
Brak zmiany ustawień przeglądarki oznacza zgodę na zapisywanie tych plików w pamięci urządzenia.
© Copyright 2006 IEL/OW
Produkcja (2006) Impact Media.