Description of the publication:

Authors:

Andrzej Sikora

Title:

Zastosowanie mikroskopii bliskich oddziaływań w badaniach materiałów oraz struktur elektrycznych i elektronicznych

Journal:

Nowa Elektrotechnika

Year:

2008

Vol:

11 (51)

Pages:

3–6

ISSN/ISBN:

1732-937X

DOI:

-----

Keywords:

---

Abstract:

Dynamiczny rozwój inżynierii materiałowej oraz innych dziedzin nauki, jaki możemy obserwować w ostatnich latach, związany jest między innymi z coraz doskonalszymi i bardziej zaawansowanymi technikami pomiarowymi. Dzieje się to między innymi za przyczyną metod diagnostyki w mikro- i nanoskali. Wiele badań wykonanych tymi metodami stało się podstawą do opracowań dostępnych już rynkowo rozwiązań, które, także na poziomie makroskopowym, charakteryzują się niespotykanymi dotychczas właściwościami.

Example figure:

Widok 3D topografii zintegrowanego obwodu z róznokolorową reprezentacją występujących potencjałów elektrycznych (Dane zebrane za pomocą metody EFM).