Description of the publication:

Authors:

Andrzej Sikora

Title:

Nanoskopowa ocena właściwości mechanicznych powierzchni materiałów dla elektrotechniki i elektroniki

Journal:

Nowa Elektrotechnika

Year:

2010

Vol:

5 (69)

Pages:

6–11

ISSN/ISBN:

1732-937X

DOI:

-----

Keywords:

Mikroskopia sił atomowych, właściwości mechaniczne

Abstract:

Ocena parametrów mechanicznych powierzchni w skali mikro– i nanometrowej ma kluczowe znaczenie zarówno w badaniach właściwości i optymalizacji procesów technologicznych różnego typu materiałów, jak również w poznawaniu zjawisk fizycznych obserwowanych na poziomie molekularnym. Obecny poziom zaawansowania technologii produkcyjnych i wymagania stawiane niektórym grupom produktów, wymuszają stosowanie wysokorozdzielczych technik pomiarowych, umożliwiających uzyskanie odpowiedniej jakości informacji na temat właściwości powierzchni. Jedną z metod badawczych o dużym potencjale poznawczym jest mikroskopia bliskiego pola, a w szczególności jej odmiana - mikroskopia sił atomowych (ang. Atomic Force Microscopy - AFM). Technika ta polega na obserwacji oddziaływań bliskiego pola pomiędzy powierzchnią a ostrzem skanującym, które znajduje się w niewielkiej odległości od tejże powierzchni (od ułamków nanometra do dziesiątek nanometrów). Dzięki wykorzystaniu odpowiednich rozwiązań technicznych, mikroskopia sił atomowych umożliwia obrazowanie topografii z rozdzielczościami molekularnymi, jak również poprzez pomiar i identyfikację poszczególnych rodzajów oddziaływań - wyznaczanie lokalnych właściwości mechanicznych powierzchni. W niniejszym artykule zaprezentowane zostaną wybrane przykłady zastosowań tej techniki pomiarowej.

Example figure:

Powierzchnia grafitu HOPG.