Description of the publication:

Authors:

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz

Title:

System zaawansowanej analizy sygnałów do pomiaru właściwości mechanicznych powierzchni w mikroskopii sił atomowych

Journal:

Przeglad Elektrotechniczny

Year:

2010

Vol:

86 (11 A)

Pages:

207–210

ISSN/ISBN:

0033-2097

DOI:

-----

Link:

http://sigma-not.pl/publikacja-55731-system-zaawansowanej-analizy-sygna%C5%82%C3%B3w-do-pomiaru-w%C5%82a%C5%9Bciwo%C5%9Bci-mechanicznych-powierzchni-w-mikroskopii-si%C5%82-atomowych-przeglad-elektrotechniczny-2010-11a.html

Keywords:

Mikroskopia sił atomowych, techniki pomiarowe, przetwarzanie sygnałów

Abstract:

W niniejszym artykule zaprezentowano opracowany moduł diagnostyczny, który pozwolił na rozszerzenie możliwości pomiarowych komercyjnego mikroskopu sił atomowych. Zaimplementowane rozwiązanie sprzętowo–programowe pozwala na detekcję skrętnych wychyleń belki skanującej. W efekcie możliwe jest zrekonstruowanie krzywej spektroskopii sił, co umożliwia szybkie, wysokorozdzielcze mapowanie właściwości powierzchni takich jak sztywność, adhezja czy rozpraszanie energii.

References:

♦ Anczykowski B., Krueger D., Fuchs H., Cantilever dynamics in quasinoncontact force microscopy: Spectroscopy aspects, Physical Review B, 53 (1996), n. 23, 15485-15488
♦ San Paulo A., Garcia R., Unifying theory of tapping-mode atomic-force microscopy, Physical Review, B 66 (2002), 041406
♦ Rabe U., Janser K., Arnold W., Vibrations of free and surface-coupled atomic force microscope cantilevers: Theory and experiment, Rev. Sci. Instrum. 67 (1996), n. 9, 3281-3293
♦ Garcia R., San Palo A., Attractive and repulsive tip-sample interaction regimes in tapping-mode atomic force microscopy, Physical Review B, 60 (1999), n. 7, 4961-4967
♦ San Palo A., Garcia R., Tip-surface forces, amplitude and energy dissipation in amplitude modulation (tapping mode) force microscopy, Physical Review B, 64 (2001), 193411
♦ Balantehin M., Atalar A., Enhanced higher-harmonic imaging in tapping-mode atomic force microscopy, Applied Physics Letters 87 (2005), n. 243513
♦ Song Y., Bhushan B., Simulation of dynamic modes of atomic force microscopy using a 3D finite element model, Ultramicroscopy 106 (2006), 847-873
♦ Sahin O., Erina N., High-resolution and large dynamic range nanomechanical mapping in tapping-mode atomic force microscopy, Nanotechnology 19 (2008), n. 445717
♦ Sahin O., Time-varying tip-sample force measurements and steady-state dynamics in tapping-mode atomic force microscopy, Physical Review B 77 (2008), n. 115405

Example figure:

Widok programu NanoSwing przetwarzającego i analizującego sygnały pomiarowe w rozbudowanym systemie pomiarowym.