The list of selected papers in english:

A. Sikora, Quantitative normal force measurements by means of atomic force microscopy. Towards the accurate and easy spring constant determination , Nanoscience and Nanometrology 2016; 2(1): 8–29

link

S. S. Kamble, D. P. Dubal, N. L. Tarwal, A. Sikora, J. H. Jang, L. P. Deshmukh, Studies on the ZnxCo1-xS Thin Films: A Facile Synthesis Process and Characteristic Properties , Journal of Alloys and Compounds 656, 590–597, 2016

link

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, Development of the photostimulated Kelvin Probe Force Microscopy setup. The tool for nanoscale diagnostic of optoelectrical properties of the surface. , Przegląd Elektrotechniczny 91 (9), 2015, 166–169

link

A. Iwan, B. Boharewicz, I. Tazbir, A. Sikora, M. Maliński, Ł. Chrobak, W. Mad, Laser Beam Induced Current Technique of Polymer Solar Cells Based on New Poly (Azomethine) or Poly (3-Hexylthiophene) , Chem. Sci. Rev. Lett. 4, 597–607 (2015)

link

Agnieszka Iwan, Marek Malinowski, Andrzej Sikora, Igor Tazbir, Grzegorz Pasciak, Eugenia Grabiec, Nafion-115/aromatic poly(etherimide) with isopropylidene groups/imidazole membranes for polymer fuel cells , Journal of Applied Polymer Science 132(34) (2015), 42436

link

Agnieszka Hreniak, Katarzyna Gryzło, Bartosz Boharewicz, Andrzej Sikora , Jacek Chmielowiec, Agnieszka Iwan, Preparation and optical properties of iron-modified titanium dioxide obtained by sol-gel method , Optical Materials 46 (2015) 45–51

link

Wojciech Lipiec, Andrzej Sikora , Use of anisotropy of light transmittance in a system to measure the frequency of nanowires' rotation in a viscous liquid , Journal of Magnetism and Magnetic Materials 389 (2015) 77–81

link

A. Iwan, A. Sikora, V. Hamplová, A. Bubnov, AFM study of advanced composite materials for organic photovoltaic cells with active layer based on P3HT:PCBM and chiral photosensitive liquid crystalline dopants, Liquid Crystals 42:7, (2015) 964–972

link

K. Oganisian, A. Hreniak, A. Sikora, D. Gaworska-Koniarek, A. Iwan, Synthesis of iron doped titanium dioxide by sol-gel method for magnetic applications, Processing and Application of Ceramics 9 [1] (2015) 43-51

link

A. Iwan, B. Boharewicz, I. Tazbir, A. Sikora, B. Zboromirska-Wnukiewicz, Silver Nanoparticles in PEDOT:PSS Layer for Polymer Solar Cell Application, International Journal of Photoenergy 2015, 764938

link

A. Iwan, M. Malinowski, A. Sikora, I. Tazbir, G. Pasciak, Studies of bibenzimidazole and imidazole influences on electrochemical properties of polymer fuel cells, Electrochimica Acta, 164, 2015, 143–153

link

M. Michalska, L. Lipinska, A. Sikora, D. Ziółkowska, K.P. Korona, M. Andrzejczuk, Structural and morphological studies of manganese-based cathode materials for lithium ion batteries, Journal of Alloys and Compounds 2015, 632: 256–262

link

S. S. Kamble, A. Sikora, S. T. Pawar, R.C. Kambale, N. N. Maldar, L. P. Deshmukh, Morphology reliance of cobalt sulfide thin films: A chemo-thermo-mechanical perception, Journal of Alloys and Compounds 2015, 631: 303–314

link

S. S. Kamble, A. Sikora, S. T. Pawar, N. N. Maldar, L. P. Deshmukh, Cobalt Sulfide Thin Films: Chemical Growth, Reaction Kinetics and Microstructural Analysis, Journal of Alloys and Compounds 2015, 623: 466–472

link

Agnieszka Iwan, Bartosz Boharewicz, Kacper Parafiniuk, Igor Tazbir, Lech Gorecki, Andrzej Sikora, Michal Filapek, Ewa Schab-Balcerzak, New air-stable aromatic polyazomethines with triphenylamine orphenylenevinylene moieties towards photovoltaic application, Synthetic Metals 2014, 195: 341–349

link

Agnieszka Hreniak, Andrzej Sikora, Agnieszka Iwan, Influence of Amount of Silver on the Structural and Optical Properties of TiO2 Powder Obtained by Sol–Gel Method , International Journal of Materials and Chemistry 2014, 4(2): 15–26

link

Andrzej Sikora, Improvement of the scanning area positioning repeatability using nanomarkers developed with a nanoscratching method, Measurement Science and Technology 25 (2014) 055401

link

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, Dynamic speed control in atomic force microscopy to improve imaging time and quality, Measurement Science and Technology 25 (2014) 044005

link

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, Grzegorz Ekwiński, Magdalena Ekwińska, The determination of the spring constant of T–shaped cantilevers using calibration structures, Measurement Science and Technology 25 (2014) 044015

link

Agnieszka Iwan, Bartosz Boharewicz, Igor Tazbir, Andrzej Sikora, Ewa Schab–Balcerzak, Marzena Grucela–Zając, Łukasz Skórka, Structural and electrical properties of mixture based on P3HT:PCBM and low band gap naphthalene diimide–imines, Synthetic Metals 01/2014; 189:183–192

link

Agnieszka Iwan, Marcin Palewicz, Andrzej Chuchmała, Andrzej Sikora, Lech Górecki, Danuta Sęk, Opto(electrical) properties of triphenylamine–based polyazomethine and its blend with [6,6]–phenyl C61 butyric acid methyl ester, High Performance Polymers, 25(7), (2013) 832–842

link

Mariusz Ozimek, Andrzej Sikora, Wiesław Wilczyński, The study of magnetic domain development in shielding films using MFM technique, Przegląd Elektrotechniczny, 08, (2013) 208–210

link

Andrzej Sikora, Mateusz Pieczarka, Marek Wałecki, Maria Adamowska, Automatic detection of the flame during the determination of the comparative tracking indices, Przegląd Elektrotechniczny, 08, (2013) 218–220

link

Andrzej Sikora, Przemysław Kryla, Marek Wałecki, Łukasz Bednarz The comparison of practical and economical aspects of utilization of various light sources, Przegląd Elektrotechniczny, 07, (2013) 336–339

link

Andrzej Sikora, Development and utilization of the nanomarkers for precise AFM tip positioning in the investigation of the surface morphology change, Optica Applicata, 43(1), (2013) 163–171

link

Piotr Bujlo, Grzegorz Paściak, Jacek Chmielowiec, Andrzej Sikora, Experimental Evaluation of Supercapacitor–Fuel Cell Hybrid Power Source for HY–IEL Scooter, Journal of Energy, (2013) 162457

link

Andrzej Chuchmała, Marcin Palewicz, Andrzej Sikora, Agnieszka Iwan, Influence of graphene oxide interlayer on PCE value of polymer solar cells, Synthetic Metals, 169 (2013) 33–40

link

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, Mapping of the surface’s mechanical properties due to analysis of torsional cantilever bending in dynamic force microcopy, Scanning Probe Acoustic Techniques (series NanoScience and Technology), F. Marinello, D. Passeri, E. Savio (editors), Springer 2012, ISBN: 978–3–642–27493–0, 315–350

link

Andrzej Sikora, Alicja Kędzia, Quantitative comparison of the dura mater tissue structures measured with atomic force microscopy, Advances in Clinical and Experimental Medicine 21(4), (2012) 487–493

link

Agnieszka Iwan, Marcin Palewicz, Michal Krompiec, Marzena Grucela–Zajac, Ewa Schab–Balcerzak, Andrzej Sikora, Synthesis, materials characterization and opto(electrical) properties of unsymmetrical azomethines with benzothiazole core, Spectrochimica Acta Part A: Molecular and Biomolecular Spectroscopy 97 (2012) 546–555

link

Agnieszka Iwan, Jeconias Rocha Guimaraes, Maria Cristina dos Santos, Ewa Schab–Balcerzak, Michal Krompiec, Marcin Palewicz, Andrzej Sikora: Polyazomethine with vinylene and phenantridine moieties in the main chain: Synthesis, characterization, opto(electrical) properties and theoretical calculations, High Performance Polymers, 24(4), (2012) 319–330

link

Andrzej Sikora, Agnieszka Iwan: AFM study of the mechanical wear phenomena of the polyazomethine with thiophene rings: Tapping mode, phase imaging mode and force spectroscopy, High Performance Polymers, 24(3) (2012) 218–228

link

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz: The implementation and the performance analysis of the multi–channel software–based lock–in amplifier for the stiffness mapping with atomic force microscope (AFM), Bulletin of the Polish Academy of Sciences: Technical Sciences, 60(1) (2012) 83–88

link

Palewicz M., Iwan A., Sikora A., Doskocz J., Stręk W. Sęk D., Mazurek B.: Optical, structural and electrical properties of aromatic triphenylamine – based poly(azomethine)s in thin layers, Acta Physica Polonica, 121(2) (2012), 439–444

link

Iwan A., Palewicz M., Chuchmała A., Górecki L., Sikora A., Mazurek B., Paściak G., Opto(electrical) properties of new aromatic polyazomethines with fluorene moieties in the main chain for polymeric photovoltaic devices, Synthetic Metals 162 (2012) 143–153

link

A. Sikora, M. Woszczyna, M. Friedemann, M. Kalbac, F. –J. Ahlers, The AFM diagnostics of the graphene–based quantum hall devices, Micron 43 (2012) 479–486

link

Andrzej Sikora, Utilization of various atomic force microscopy techniques in investigation of liquid crystal compounds, Liquid crystalline organic compounds and polymers as materials XXI century: From synthesis to applications, Agnieszka Iwan, Ewa Schab–Balcerzak – editors, Transworld Research Network, 2011, 191–219

link

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, Utilization of AFM mapping of surface's mechanical properties in diagnostics of the materials for electrotechnics, Proceedings of Electrotechnical Institute, Issue 253, 2011, str. 15–25

link

Andrzej Sikora, Paweł Dorofiejczyk, Utilization of advanced image processing algorithms in computer controlled digital measurement devices calibration stand, Proceedings of Electrotechnical Institute, Issue 253, 2011, 53–60

link

Stanisław Kudła, Katarzyna Szpilska, Andrzej Sikora, Joanna Warycha, SEM and AFM imaging of inorganic nanotubes, Journal of Polish Applied Chemistry, (2011), LV, no. 2, 73–80

link

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, Direct measurement and control of peak tapping forces in atomic force microscopy for improved height measurements, Measurement Science and Technology 22 (2011) 094005

link

Andrzej Sikora, The method of minimizing the impact of local residual electrostatic charge on dimensions measurement accuracy in atomic force microscopy (AFM) measurements, Measurement Science and Technology, 22 (2011) 094022

link

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, The accuracy of optically supported fast approach solution for scanning probe microscopy (SPM) measuring devices, Measurement Science and Technology, 22 (2011) 094015

link

Barbara Górnicka, Andrzej Sikora, Damian Wojcieszak, Surface morphology study and dielectric properties of polyesterimide nanocomposite, Elektronika 3, 2011, 66–68

link

Agnieszka Iwan, Ewa Schab–Balcerzak, Mariola Siwy, Andrzej Sikora, Marcin Palewicz, Henryk Janeczek, Maciej Sibiński, New aliphatic–aromatic tetraphenylphthalic–based diimides: Thermal, optical and electrical study, Optical Materials 33 (2011) 958–967

link

Marcin Palewicz, Agnieszka Iwan, Maciej Sibiński, Andrzej Sikora, Boleslaw Mazurek, Organic photovoltaic devices based on polyazomethine and fullerene, Energy Procedia 3 (2011) 84–91

link

Agnieszka Iwan, Damian Pociecha, Andrzej Sikora, Henryk Janeczek, Marcin Węgrzyn, Characterization and mesomorphic behaviour of new aliphatic–aromatic azomethines containing ester groups, Liquid Crystals Vol. 37, No. 12, (2010) 1479–1492

link

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, Mapping of mechanical properties of the surface by utilization of torsional oscillation of the cantilever in atomic force microscopy, Central European Journal of Physics, 9(2), 2011, 372–379

link

A. Bastrzyk, I. Polowczyk, Z. Sadowski, A. Sikora, Relationship between properties of oil/water emulsion and agglomeration of carbonate minerals, Separation and Purification Technology 77 (2011), 325–330

link

Ewa Schab–Balcerzak, Agnieszka Iwan, Michal Krompiec, Mariola Siwy, Daniel Tapa, Andrzej Sikora, Marcin Palewicz, New thermotropic azomethine–naphthalene diimides for optoelectronic applications, Synthetic Metals 160 (2010), 2208–2218

link

Danuta Sęk, Bozena Jarząbek, Eugenia Grabiec, Bożena Kaczmarczyk, Henryk Janeczek, Andrzej Sikora, Agnieszka Hreniak, Marcin Palewicz, Mieczyslaw Łapkowski, Krzysztof Karon, Agnieszka Iwan, A study of thermal, optical and electrical properties of new branched triphenylamine–based polyazomethines, Synthetic Metals 160(19), 2010, 2065–2076

link

Agnieszka Iwan, Danuta Sęk, Damian Pociecha, Andrzej Sikora, Marcin Palewicz, Henryk Janeczek, New discotic–shaped azomethines with triphenylamine moieties: Thermal, structural behaviors and opto–electrical properties, Journal of Molecular Structure 981 (2010), 120–129

link

Agnieszka Iwan, Marcin Palewicz, Andrzej Sikora, Jacek Chmielowiec, Agnieszka Hreniak, Grzegorz Paściak, Bolesław Mazurek, Pawel Bilski, Aliphatic–aromatic poly(azomethine)s with ester groups as thermotropic materials for opto(electronic) applications, Synthetic Metals 160 (2010), 1856–1867

link

Andrzej Sikora, Utilization of the Electrostatic Force Microscopy for detection filler grains in nanocomposites and its distribution evaluation, Acta Physica Polonica A, vol. 116, 2009, 102–104

link

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, Utilization of digital processing of the optical scanning field view for tip–sample distance estimation during the approach procedure, Acta Physica Polonica A, vol. 116, 2009, 99–101

link

Andrzej Sikora, Roman Szeloch, Eugeniusz Prociów, Characterization of the different energy–gap multilayer structures using near field microscopy, Optica Applicata Vol. 39, No. 4, 2009, 943–950

link

Andrzej Sikora, The influence of the electrical field on structures dimension measurement in Electrostatic Force Microscopy mode, Optica Applicata Vol. 39, No. 4, 2009, 933–941

link

Andrzej Sikora,Teodor P. Gotszalk, Roman F. Szeloch, Nanoscale evaluation of thin oxide film homogeneity with combined shear force emission microscope, Materials Science–Poland, Vol. 27, No. 4/2, 2009, 1171–1178

link

Agnieszka Iwan, Paweł Bilski, Henryk Janeczek, Bożena Jarząbek, Marian Domański, Patrice Rannou, Andrzej Sikora, Damian Pociecha, Bożena Kaczmarczyk, Thermal, optical, electrical and structural study of new symmetrical azomethine based on poly(1,4–butanediol)bis(4–aminobenzoate), Journal of Molecular Structure, Vol. 963, 2010, 175–182

link

Andrzej Sikora, Reconstruction of feature shape and dimension through data processing of sequenced various angle atomic force microscopy (AFM) scans, Meas. Sci. Technol. 20 (2009) 084016, 1–7

link

Andrzej Sikora, Teodor P. Gotszalk, The issues of near field interaction detection in developed combined shear force/ emission microscope, Journal of Physics: Conference Series, 146 (2009) 012037, 1–6

link

Andrzej Sikora, Teodor P. Gotszalk, Roman F. Szeloch, Jarosław Serafińczuk, Grzegorz Jóźwiak, Przemysław Szecówka, Application of FFT transformation for correlation analysis of near field microscopy measurements, Journal of Physics: Conference Series, 146 (2009) 012036, 1–6

link

Andrzej Sikora, Teodor Gotszalk, Roman Szeloch, Combined shear–force/field emission microscope for local electrical surface investigation, Microelectronic Engineering, Volume 84, Issue 3, March 2007, 542–546

link

Andrzej Sikora, Teodor Gotszalk, Roman Szeloch, Combined shear force – tunnelling microscope as a nanometer resolution diagnostic tool for thin oxide films, Prace Naukowe Instytutu Podstaw Elektrotechniki i Elektrotechnologii Politechniki Wrocławskiej nr 46, Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej 2007, 69–73

link

Andrzej Sikora, Correction of structure width measurements performed with a combined shear–force/tunneling microscope, Meas. Sci. Technol. 18, vol. 2 (2007), 456–461

link

Andrzej Sikora, Teodor Gotszalk, Anna Sankowska, Ivo W Rangelow, Application of scanning shear–force microscope for fabrication of nanostructures, Journal of telecommunications and information technology 1, (2005), 81–84

link

Iwona Zaręba–Grodź, Włodzimierz Miśta, Andrzej Sikora, Teodor Gotszalk, Wiesław Strąk, Krzysztof Hermanowicz, Krzysztof Maruszewski, Textural properties of silica–based organic–inorganic polymer hybrid xerogels, Material Science–Poland 23 (1), 2005, 147–158

link

Andrzej Sikora, Teodor Gotszalk, Roman Szeloch, Combined shear force – tunnelling microscope with interferometric tip oscillation detection for local surface investigation and oxidation, Nanoscale Calibration Standards and Methods, (Wilkening G., Koenders L. – Editors), Wiley–VCH, Berlin 2005, 144–155

link

Andrzej Sikora, Dmitri V. Sokolov, Hans U. Danzebrink, Scanning probe microscope set–up with interferometric drift compensation, Nanoscale Calibration Standards and Methods, (Wilkening G., Koenders L. – Editors), Wiley–VCH, Berlin 2005, 109–118

link


The list of selected papers in polish:

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, Joanna Warycha, Leszek Moroń Przestrzennie skorelowana, submikrometrowa analiza właściwości morfologicznych, mechanicznych i chemicznych kompozycji epoksydowej domieszkowanej nanokrzemionką
Spatially correlated submicron morphological, mechanical and chemical analysis of the nanosilicate- doped epoxy
Elektronika 10/2014, 14-16

Andrzej Sikora Development and utilization of advanced atomic force microscopy techniques in diagnostics of the electrotechnical materials. Chosen problems Proceedings of Electrotechnical Institute, Issue 257, monograph, Warszawa 2012, ISSN: 0032–6216

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, Procedura doboru parametrów oddziaływania ostrze–próbka w celu uzyskania optymalnej rekonstrukcji krzywej spektroskopii sił w trybie pomiarowym NanoSwing mikroskopii sił atomowych. Metrologia dziś i jutro – 2011, red. W. Walendziuk, J. Jakubiec, M. Swiercz, Oficyna Wydawnicza Politechniki Białostockiej, Białystok 2011, ISBN: 978–83–62582–04–4, str. 199–212

Andrzej Sikora, Diagnostyka struktur półprzewodnikowych z wykorzystaniem zaawansowanych technik bliskiego pola, Elektronika 9/2010, 93–95

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, System zaawansowanej analizy sygnałów do pomiaru właściwości mechanicznych powierzchni w mikroskopii sił atomowych, Przegląd Elektrotechniczny 86 (11 A), 207–210

Andrzej Sikora, Alicja Kędzia, Analiza struktur opony twardej w okresie prenatalnym w mikroskopii sił atomowych, Prace Wrocławskiego Towarzystwa Naukowego, seria B, nr 216, Wrocław 2010, 263–271

Andrzej Sikora, Sebastian Bednarz, System interaktywnej wizualizacji wyników pomiarowych mikroskopii bliskiego pola, Prace Wrocławskiego Towarzystwa Naukowego, seria B, nr 216, Wrocław 2010, 125–130

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, Roman Szeloch, Zaawansowane przetwarzanie i analiza sygnałów pomiarowych w czasie rzeczywistym w systemie mikroskopii bliskiego pola, Prace Wrocławskiego Towarzystwa Naukowego, seria B, nr 216, Wrocław 2010, 117–124

Andrzej Sikora, Nanoskopowa ocena właściwości mechanicznych powierzchni materiałów dla elektrotechniki i elektroniki, Nowa Elektrotechnika 5 (69), 2010, 6–11

Mariusz Ozimek, Andrzej Sikora, Dominika Gaworska–Koniarek, Wiesław Wilczyński, Nanoskopowa analiza struktury domenowej materiałów magnetycznych z wykorzystaniem mikroskopii bliskiego pola, Przegląd Elektrotechniczny (Electrical Review), R. 86 NR 4/2010, 72–74

Andrzej Sikora, Rozwój metod pomiarowych bliskiego pola w naukach technicznych i ich wpływ na nauki biologiczne, Nowa Elektrotechnika 4 (56), 2009, 6–8

Andrzej Sikora, Cyfrowa rekonstrukcja przekroju mikrostruktur na podstawie kilku pomiarów powierzchni metodami mikroskopii sił atomowych, Prace Wrocławskiego Towarzystwa Naukowego, seria B, nr 214, Wrocław 2008, 33–36

Andrzej Sikora, Roman Szeloch, Eliminacja artefaktów w wynikach pomiarów w mikroskopii bliskiego pola, z zastosowaniem porównawczej transformaty Fouriera, Prace Wrocławskiego Towarzystwa Naukowego, seria B, nr 214, Wrocław 2008, 163–168

Andrzej Sikora, Komputerowo–mikroprocesorowy centralny system zdalnego monitorowania pracy stanowisk badawczych, Prace Wrocławskiego Towarzystwa Naukowego, seria B, nr 214, Wrocław 2008, 17–20

Andrzej Sikora, Zastosowanie mikroskopii bliskich oddziaływań w badaniach materiałów oraz struktur elektrycznych i elektronicznych, Nowa Elektrotechnika 11 (51), listopad 2008, 3–6

Andrzej Sikora, Teodor P. Gotszalk, Roman F. Szeloch, Jarosław Serafińczuk, Grzegorz Józwiak, Mikroskopia bliskiego pola Shear Force/sił atomowych z interpretacją wyników poddanych transformacie FFT, Elektronika 11/2008, 220–222

Andrzej Sikora, Sikora Anna, Paweł Biniek, System scentralizowanego monitoringu rozproszonych procesów pomiarowo–badawczych, Elektronika 11/2008, 207–209



Conference poster presentations

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, Tomasz Fałat, Marek Wałecki, Maria Adamowska The investigation of the simulated solar radiation impact on the micro- and nanoscale morphology and mechanical properties of the sheet moulded composite surface, National Conference on Nano and Micromechanics Wrocław 2014

Łukasz Bednarz, Grzegorz Ekwiński,Andrzej Sikora, The study of the condition related issues of the AFM probes spring constant determination using high accuracy calibration features, National Conference on Nano and Micromechanics Wrocław 2014

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, Joanna Warycha, Leszek Moroń Przestrzennie skorelowana, submikrometrowa analiza właściwości morfologicznych, chemicznych i mechanicznych kompozycji epoksydowej domieszkowanej nanokrzemionką, Seminarium Techniki Jonowe połączone z Zimową Szkoła Nanoinżynierii Powierzchni 2014 Szklarska Poręba Średnia

Andrzej Sikora, Agnieszka Hreniak, Agnieszka Iwan, Badania AFM proszków TiO2 domieszkowanych srebrem, Krajowa Konferencja Nanotechnologii 2013 Szczecin

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, Reduction of the impact of the feedback loop dynamic response on morphology imaging quality by implementation of dynamic scanning speed control in atomic force microscopy, Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods NanoScale 2013 Paris, France

Andrzej Sikora, Improvement of the surface's properties changes observation repeatability by utilization of the nanomarkers developed with scratching method, Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods NanoScale 2013 Paris, France

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, Grzegorz Ekwiński, Magdalena Ekwińska, Utilization of the calibration structures for determination the spring constant of the torsional Oscillation cantilevers in terms of performing the quantitative forces and Young modulus mapping of the surface, Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods NanoScale 2013 Paris, France

Andrzej Sikora, Utilization of the nanomarkers in advanced investigations of physical properties of the surface, Zjazd Fizyków Polskich 2013 Poznań

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, Mirosław Woszczyna, Miriam Friedemann, Franz–Josef Ahlers, Badania właściwości mechanicznych, elektrycznych i termicznych nanostruktur grafenowych, Seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań STM/AFM 2012 Zakopane

Andrzej Sikora, Przemysław Kryla, Marek Wałecki, Łukasz Bednarz, Porównanie aspektów ekonomicznych i praktycznych stosowania różnego typu źródeł światła, Konferencja "Postępy w Elektrotechnologii" Jamrozowa Polana 2012

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, Mapping of the thin films and nanostructures mechanical properties with the NanoSwing imaging technique, Seminarium Powierzchnia i Struktury Cienkowarstwowe SemPiSC 2012 Szklarska Poręba Średnia

Andrzej Sikora, Development and utilization of the nanomarkers in the investigation of the surface properties change due to the influence of various factors, Seminarium Powierzchnia i Struktury Cienkowarstwowe SemPiSC 2012 Szklarska Poręba Średnia

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz The implementation and the performance optimization of the eight–channel software lock–in amplifier utilized in atomic force microscopy measurements, Krajowa Konferencja Elektroniki 2011 Darłówko Wschodnie

Andrzej Sikora, Mirosław Woszczyna, Miriam Friedemann, Franz–Josef Ahlers, Martin Kalbac The AFM diagnostics of the graphene–based quantum Hall devices, Krajowa Konferencja Nanotechnologii 2011 Gdańsk

Andrzej Sikora, Zastosowanie zaawansowanych transformat obrazu w poprawie czytelności wyników pomiarowych mikroskopii sił atomowych, Seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań STM/AFM 2010 Zakopane

Andrzej Sikora, Diagnostyka struktur półprzewodnikowych z wykorzystaniem zaawansowanych technik bliskiego pola, Krajowa Konferencja Elektroniki 2010 Darłówko Wschodnie

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz System zaawansowanych analizy sygnałow do pomiaru właściwości mechanicznych powierzchni w mikroskopii sił atomowych, Krajowa Konferencja Elektroniki 2010 Darłówko Wschodnie

Andrzej Sikora, Przemysław Kryla, Wojciek Zmyślony, Wyznaczanie parametrów sygnału okresowego w przenośnym systemie tomografii impedancyjnej pni drzew, Krajowa Konferencja Elektroniki 2010 Darłówko Wschodnie

Andrzej Sikora, The impact of local residual electrostatic charge on dimensions measurement accuracy in AFM measurements, Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods NanoScale 2010 Brno, Czech Republic

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz The accuracy of optically supported fast approach solution for SPM measuring devices, Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods NanoScale 2010 Brno, Czech Republic

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, The improvement of the structures height measurement by implementation of direct peak force control mode, Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods NanoScale 2010 Brno, Czech Republic

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, Roman Szeloch, Zaawansowane przetwarzanie i analiza sygnałów pomiarowych w czasie rzeczywistym w systemie mikroskopii bliskiego pola, Krajowa Konferencja Komputerowe wspomaganie badań naukowych 2010 Polanica Zdrój

Andrzej Sikora, Alicja Kędzia, Analiza struktur opony twardej w okresie prenatalnym w mikroskopii sił atomowych, Krajowa Konferencja Komputerowe wspomaganie badań naukowych 2010 Polanica Zdrój

Andrzej Sikora, Przemysław Kryla, Komputerowy system testowy mobilnego, mikroprocesorowego urządzenia pomiarowego tomografii impedancyjnej drzew, Krajowa Konferencja Komputerowe wspomaganie badań naukowych 2010 Polanica Zdrój

Andrzej Sikora, Agnieszka Iwan, Zastosowanie technik mikroskopii AFM do analizy struktury poliazometin o właściwościach ciekłokrystalicznych, Krajowa Konferencja Nanotechnologii 2010 Poznań

Andrzej Sikora, Łukasz Bednarz, Wykorzystanie oscylacji skrętnych belki skanującej w mikroskopii sił atomowych w ocenie parametrów mechanicznych powierzchni, Krajowa Konferencja Nanotechnologii 2010 Poznań

Andrzej Sikora, Mariusz Ozimek, D. Gaworska–Koniarek, W. Wilczyński, Ocena korelacji magnetycznej struktury domenowej i parametrów cienkich warstw ekranujących pola EM, Krajowa Konferencja Nanotechnologii 2010 Poznań

Andrzej Sikora, Alicja Kędzia, Obserwacja struktury tkanek opony twardej z wykorzystaniem mikroskopii sił atomowych, Krajowa Konferencja Nanotechnologii 2010 Poznań