Mikroskopia sił atomowych (AFM) umożliwia badanie właściwości powierzchni próbki w skali mikro- i nanometrowej (od dziesiątek mikrometrów, do ułamków nanometrów - poniższy wykres). W zależności od zastosowanego trybu pomiarowego, możliwe jest uzyskanie informacji na temat mechanicznych, elektrycznych, termicznych lub też magnetycznych właściwości powierzchni. Zestawienie dostępnych trybów pomiarowych oraz rodzaju informacji, jakie pozwalają uzyskać, znajduje się w poniższej tabeli. Mikroskop AFM Innova, będący na wyposażeniu umożliwia uzyskanie maksymalnego pola skanowania 100x100um (mikrometrów). Maksymalne wymiary próbek wynoszą 4x4cm, grubość: 2cm. Zachęcamy do lektury opisów wraz z przykładami uzyskanych wyników.

Porównanie zdolności rozdzielczej różnych technik mikroskopowych.
SPM: mikroskopia skanującego ostrza (w tym także AFM)
HM: optyczy mikroskop wysokiej rozdzielczości
PCM: mikroskop kontrastu fazowego
(S)TEM: skaningowy transmisyjny mikroskop elektronowy
SEM: elektronowy mikroskop skaningowy
REM: odbiciowy mikroskop elektronowy
FIM: mikroskop pola jonowego



Diagram sporządzono na podstawie: G. Binnig and H. Rohrer, "Scanning tunneling microscopy", Helvetica Physica Acta, 55 (1982), 726-735, at 734. Birkhäuser Verlag Basel.

Stanowisko nanodiagnostyki wyposażone jest w mikroskop sił atomowych (AFM) Innova firmy Bruker www.bruker-axs.com (wcześniej Veeco).



Oferujemy realizację badań w następujących trybach pomiarowych:

Tryby pomiarowe

Właściwości materiału

Szczegóły

Contact AFM

topografia

kliknij

TappingMode (Intermittent Contact AFM)

topografia

kliknij

Non contact AFM

topografia

kliknij

Lateral Force Microscopy

właściwości mikrotrybologiczne powierzchni

kliknij

Phase Imaging

właściwości materiałowe/ lepkosprężystość

kliknij

Force Modulation Microscopy

właściwości materiałowe/ twardość

kliknij

Electrostatic Force Microscopy

właściwości elektryczne powierzchni

kliknij

Magnetic Force Microscopy

właściwości magnetyczne powierzchni

kliknij

Surface Potential Imaging (Kelvin Probe Microscopy)

właściwości elektryczne powierzchni

kliknij

Scanning Tunelling Microscopy

powierzchnia stanów elektronowych

kliknij

Force Spectroscopy (charakterystyka odległość - siła)

właściwości materiałowe powierzchni

kliknij

Nanolitografia

wytwarzanie wzorów na powierzchni

kliknij

NanoSwing

właściwości mechanicze

kliknij

Scanning Thermal Miscroscopy

właściwości termiczne powierzchni

kliknij



Pomiary z wykorzystaniem mikroskopii AFM mogą być wykorzystane do:

Szczegóły

oceny chropowatości powierzchni

kliknij

pomiaru wymiarów struktur

kliknij


Lista publikacji