Opis trybu pomiarowego TappingMode AFM.

Tryb TappingMode jest najczęściej używanym trybem pomiarowym spośród dostępnych modów mikroskopii AFM. Metoda ta, opatentowana przez firmę Veeco, odwzorowuje topografię próbki poprzez delikatne uderzanie powierzchni drgającym ostrzem skanującym. Amplituda drgań ostrza zmienia się wraz z wysokością powierzchni, a obraz topografii otrzymywany jest poprzez monitorowanie tych zmian i minimalizowanie ich przez pętlę sprzężenia zwrotnego osi Z. Tryb TappingMode stał się popularną metoda pomiarową i pokonuje ograniczenia zarówno metody kontaktowej jak i bezkontaktowej. Dzięki wyeliminowaniu sił lateralnych mogących spowodować uszkodzenia powierzchni delikatnych próbek i ograniczyć rozdzielczość obrazowania, metoda TappingMode umożliwiła rutynowe odwzorowywanie powierzchni uznawanych za niemożliwe do zbadania, zwłaszcza z wykorzystaniem techniki kontaktowej.

Kolejna istotna zaleta trybu TappingMode wynika z pokonania ograniczeń wynikających z obecności cienkich warstw cieczy, znajdujących się na większości powierzchni badanych w warunkach atmosferycznych, w obecności powietrza lub innego gazu. Amplituda drgań ostrza w trybie TappingMode wynosi typowo kilkadziesiąt nanometrów, co gwarantuje, że ostrze nie przyklei się do warstwy cieczy. Amplituda drgań ostrza stosowana w mikroskopii bezkontaktowej jest znacznie mniejsza, gdyż obserwowane są wtedy inne oddziaływania. W rezultacie, w przypadku mikroskopii bezkontaktowej, ostrze może przyklejać się do warstwy cieczy, chyba że skanowanie odbywa się z małą prędkością.

 

Przykłady (kliknij, aby powiększyć)


Powierzchnia układu scalonego. Pole skanowania 70x70um.

Erytrocyt (czerwona krwinka). Pole skanowania 9x9um.

Włos ludzki. Pole skanowania 52x80um.

Skrzydło ćmy. Pole skanowania 5x5um.

Powierzchnia próbki testowej TGT1, służąca do oceny kształtu ostrza skanującego. Pole skanowania 10x10um.

Powierzchnia spodniej strony płyty DVD z widocznym odciskiem pitów i landów, pochodzących z innej płyty DVD (bez pokrycia technologicznego). Pole skanowania 20x20um.

Powierzchnia komórek pamięci układu EPROM. Pole skanowania 30x30um.

Kryształy soli NaCl. Pole skanowania 60x60um.

Powierzchnia ciekłego kryształu. Pole skanowania 1x1um.

Powierzchnia pokrycia politetrafluoroetylenowego. Pole skanowania 50x50um.

Struktury testowe w układzie scalonym. Pole skanowania 80x80um.

Ostrze nieużywanego skalpela chirurgicznego. Pole skanowania 7,3x8,7um.


poprzednie

do góry

następne