Opis trybu pomiarowego MFM (Magnetic Force Microscopy)

Magnetic Force Microscopy (MFM) - mikroskopia sił magnetycznych jest metodą pomiarową pochodną do trybu dynamicznego (tzw. TappingMode), umożliwiającą pomiar gradientu rozkładu domen magnetycznych na powierzchni próbki. Pomiar ten wykonywany jest w tzw. trybie LiftMode, polegającym na wykonaniu pierwszego skanu odwzorowującego powierzchnię próbki a następnie drugiego skanu, gdzie namagnesowane ostrze przesuwane jest w pewnej odległości nad powierzchnią (odtwarzając zarejestrowaną w pierwszym przejściu topografię), Zarejestrowane zmiany częstotliwości i fazy oscylacji ostrza pozwalają odwzorować oddziaływania magnetyczne ostrza z powierzchnią próbki.

Ostrze skanujące MFM pokryte jest cienką warstwą materiału ferromagnetycznego. Podczas skanowania indukcja magnetyczna, będąca funkcją odległości pomiędzy ostrzem a próbką, wywołuje zmiany częstotliwości rezonansowej lub amplitudy drgań belki skanującej. MFM można stosować do obrazowania zarówno naturalnie istniejących, jak również zapisywanych struktur domenowych w materiałach magnetycznych. Na ilustracji przedstawiono obraz dysku twardego uzyskany w trybie MFM.

 

Przykłady (kliknij, aby powiększyć)


Powierzchnia.

Rozkład domen magnetycznych.
Dysk twardy 40GB. Pole skanowania 5x5um.

Powierzchnia.

Rozkład domen magnetycznych.
Dyskietka ZIP. Pole skanowania 10x10um.

Powierzchnia.

Rozkład domen magnetycznych.
Anizotropowy nanokrystaliczny materiał magnetyczny - NdFeB. Pole skanowania 3x3um.

Powierzchnia.

Rozkład domen magnetycznych.
Warstwa FeNi naniesiona metodą napylania magnetronowego na podłoże szklane. Pole skanowania 8x8um.


poprzednie

do góry

następne