Skaningowy mikroskop elektronowy


Oferujemy analizę struktury materiałów stałych z wykorzystaniem mikroskopii elektronowej z przystawką EDS. Za pomocą elektronowego mikroskopu skaningowego SEM (Scaning Electron Microscopy) firmy Vega II SBH z detektorem SE (elektronów wtórnych) i BSE ( elektronów wstecznie rozproszonych) w zakresie powiększeń 6 - 1 000 000x (uzależnionych od rodzaju i sposobu przygotowania próbki) można uzyskać mikroanalizy jakościowe i ilościowe składu chemicznego za pomocą przystawki EDS, w tym: analizy punktowe, liniowe, powierzchniowe oraz rozkład powierzchniowy pierwiastków (mapping).

Skaningowa mikroskopia elektronowa jest techniką komplementarną do Mikroskopii sił atomowych. Więcej informacji na temat Mikroskopii sił atomowych oraz pokrewnych technik bliskiego pola można znaleźć na stronie Pracowni Pomiarów i Diagnostyki



© Instytut Elektrotechniki Oddział Technologii i Materiałoznawstwa we Wrocławiu
Pracownia Badań Strukturalnych, ul. M. Skłodowskiej-Curie 55/61, 50-369 Wrocław